高功率微波能对计算机等电子信息设备产生不同程度的损伤。利用高功率微波模拟试验系统,研究了L波段高功率微波对计算机主机和显示器的损伤效应,通过改变微波源和计算机设置,得到了损伤规律,分析了损伤机理,确定了受试样本的损伤阈值,并通过三参数威布尔函数法拓展得到了计算机类设备的损伤阈值范围。研究结果为计算机等电子信息设备对高功率微波的防护技术研究和防护标准规范制定提供了数据支撑和参考依据。 ，前端总线频率400MHz，集成网卡，集成声卡;显卡－GeForce2MX/MX400，64M显存，频率166MHz;操作系统－Win-dowsXPSP3。试验时，由于受试计算机尺寸小于天线尺寸，同时，在微波暗室中，静区为3m×3m，远大于天线和受试计算机尺寸，且暗室设计时静区场不均匀度小于5%，因此不需要进行多点测试。图1HPM对受试设备的效应试验布局2试验方法研究不同脉宽(0．2μs，0．5μs，1μs)、不同重复频率(2kHz，1kHz，500Hz)、不同极化方式(水平极化和垂直极化)、不同辐照角度(正面、侧面和背面辐照)、受试计算机系统的连接线缆处理方式(是否连接鼠标、键盘线)、受试计算机系统的不同设置(内存条根数本文由张家港弯管机网站

转载中国知网整理!www.wangaunjimuju.net、容量的改变)等因素对试验结果的影响，损伤效应试验研究-数控滚圆机倒角机张家港液压弯管机数控弯管机滚弧机通过比较，确定了最低微波能量密度或场强峰值作为设备的损伤阈值，并得到了对应的微波源和计算机系统工况的设置情况。在以上研究的基础上，总结高功率微波对受试计算机系统的损伤规律，分析计算机系统的损伤机理。试验时，选用3个样本，对每个样本同一次试验一般重复5次，如果连续出现3次类似效应，则终止本次试验;为了避免上次试验对下次试验产生累积效应影响，重复效应试验的间隔为2min。对同一试验设置，测量结果会由于样本的差异、重复次数的差异而出现离散性，因此损伤阈值的确定应该是一个范围，而不是一个固定的数值。这个范围的确定方法如下:对同一个试验样本在同一试验设?c)显示器黑屏图2HPM对计算机显示器的损伤情况(a)显卡出错，显示内容丢失(b)文件损坏，系统瘫痪(c)系统蓝屏错误图3HPM对计算机主机的损伤情况(反映在显示器上)表1L波段高功率微波对计算机显示器的损伤效应试验结果序号脉冲宽度/μs重复频率/kHz脉冲个数/个样本1样本2样本3能量密度/(J·m－2)样本1样本2样本3效应物设置损伤情况10．4复脉冲，需要考虑时间因素，即在功率流密度基础上，乘以作用时间(重复次数和脉冲宽度的乘积，单位为s，忽略散热因素)，因此，体现在结果上为能量密度(W·s/m2)，即为(J/m2)。(确切的说，称为能量面密度更合适，但一般称为能量密度。)计算机系统损伤等级分类原则如表4所示。28微波学报201损伤效应试验研究-数控滚圆机倒角机张家港液压弯管机数控弯管机滚弧机本文由张家港弯管机网站 转载中国知网整理!www.wangaunjimuju.net