现代直流系统主要包括用以传输电能的直流线路,变换波形的直流换流器和接受调控命令并反映到电气量上的控制系统。为了研究换相失败在交流侧产生的电气变化,本文对换相失败的原理及其所造成影响进行了研究。测量值从5度到45度aI的大小几乎没有什么变化，但是有相角的变化。(a)α对△Iα的影响(b)μ对Iα的影响(c)α对Iα的影响(d)μ对Iα的影响图5轻微及严重故障时α与μ对Iα的影响当严重接地故障时，分析整流逆变侧交流等值工频电流相量图。从图5(c)可以看出随着α的值从1增大到3，aI的端点从B沿着aI′的延长线到C,D；从图5(d)可以看出μ的值从5度到45度aI的大小几乎没有什么变化，但是有相角的变化。由上面的分析可知，无论是轻微还是严重故障时都有：（1）当发生换相失败时，aI′的大小跟着μ的增大会有较小程度的缩小，跟着0dcI、0dc.invU和C的变大而变大；aI′的相角会随着μ的增大而逐渐滞后。（2）当发生换相失败时，交流侧电气量影响-电动折弯机数控滚圆机弯管机张家港数控弯管机滚圆机滚弧机的大小由于μ的变大而略有变大，随着0dc.invU和C的变大先变小后变大，随着0dcI变大而变大；aI的相角则随着0dcI、0dc.invU和C的增大而逐渐滞后。 本文由张家港弯管机网站

转载中国知网整理!www.wangaunjimuju.net2仿真验证基于PSCAD/EMTDC建立直流系统模型。此模型同CIGRE的HVDC标准模型类似,受端交流系统短路容量SCR=36，线路MN全长30km，参数为：31r0.025e(/m)=，31x0.3e(/m)=；30r0.075e(/m)=，30x0.9e(/m)=。采样频率为5000Hz，所有故障均发生在02s。为了证明上文关于换相失败后由于换相失败严重程度的不同而导致等值工频变化量电流幅值和相位的变化结论的准确性，基于换流站换相失败的严重程度,本文大致将换相失败分为了4种类型:临界换相失败状态、轻微换相失败状态、较严重换相失败状态以及严重换相失败状态。当中,临界换相失败状态说的是没有阀发 电压负阻现象示意图如图4，A点为测试电流IT对应的电压UA，B点为击穿电压的测试判据UB，C点为箝位电压UC，D点为击穿点电压UD。图4所示曲线状态下，半导体分立器件测试系统的击穿电压测试输出值为箝位电压UC，此时UC>UB，器件判为合格，但测试电流IT对应的击穿电压真实值实际上应为UA，由于UA<UB，器件应判为不合格。这种情况可能会出现在测试电流为mA级及以上的击穿电压测试中。对于功率晶体管而言，测试电流一般较大，负阻现象也较为常见，测试时应予以关注。但在功率晶体管具体应用，工作电压一般远离雪崩击穿点， 本文由张家港弯管机网站 转载中国知网整理!www.wangaunjimuju.net故不会受到击穿之后的负阻效应影响，负阻效应的影响原则上可以忽略。但对于功率稳压管和TVS管而言，因为两者均是工作在雪崩击穿状态下，不论是测试还是应用，均必须考虑负阻效应带来的影响。功率稳压管和TVS管的击穿电压测试，箝位电压的选择至关重要，如果选择过小，未过雪崩击穿点，就很可能测试误判。223二次击穿导致器件损伤功率晶体管二次击穿发生在雪崩击穿之后，分为冷击穿和热击穿两个阶段，两个阶段的击穿可在几十纳秒内相继发生[6]，主流半导体分立器件测试系统的反应时间为微秒级以上，且多为电压箝位保护，故一旦发生二次击穿，通常都是热击穿，此时击穿电压大幅减小，电压箝位失效，电流瞬间急剧增大，有相关试验表明，测试过程中引入二次击穿器件，容易对器件造成损伤，甚至损坏。在击穿参数实际测试过程中，不建议测至器件二次击穿点，测试电流应确保比二次击穿点电流小，尽量接近反向击穿电压下的漏电流ICEO极限值，且箝位电压的设置应保证小于雪崩击穿点的电压。3结论本文从雪崩击穿交流侧电气量影响-电动折弯机数控滚圆机弯管机张家港数控弯管机滚圆机滚弧机 本文由张家港弯管机网站 转载中国知网整理!www.wangaunjimuju.net